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『가속 수명 시험 (HALT / HASS) 기술 세미나 안내 및 초청』
풍성한 결실의 계절을 맞이하여 귀사의 무궁한 발전을 기원합니다.
신뢰성 시험기법인 초가속수명시험 (HALT/HASS) 기술에 대하여 한국광기술원,
구미전자정보진흥원, ㈜케피코, ㈜비버스사와 공동으로 마련하였습니다.
이번 세미나에는 미국 VISTEON社에서 HALT 실무를 담당하고 있는 Mr. John J. Klauke,
Hanse Environmental社 Mr. John Hanse / Mr John Sexton를 초청하여 기본 이론
및 적용범위, 시험 사례, 분석 방법을 통해서 전자. 자동차 부품․소재 업체에서 생산하는
제품에 대한 품질 확보와 신뢰성 향상에 기여코자 하오니 많은 관심과 참여를 바랍니다.
또한 고객 여러분의 편리를 위하여 지역별로 순차적으로 세미나를 개최를 하오니 장소와
날짜를 선택하시여 참가하여 주시기 바랍니다..
□ 개 요
o 세미나명 : 전자 및 자동차 부품․소재 가속수명시험 (HALT/HASS) 기술 세미나
o 일 시 : 1차) 2007. 11.13 (화), 10:00 ～ 17:00 : 한국 광 기술원 (광주시 첨단)
2 차) 2007. 11. 14 (수), 10:00 ~ 17:00 : 재) 구미전자정보기술원 (경북 구미)
3 차) 2007. 11. 15 (목), 10:00 ~ 17:00 : ㈜ 케피코 (경기 군포)
(찾아 오시는 길은 각 연구소의 홈페이지 약도 참조하시기 바랍니다.)
o 주 최 : 한국 광 기술원, (재)구미전자정보기술원, ㈜ 케피코
o 후 원 : (주) 비버스
o 참석대상 : 전자. 자동차 산업체 및 연구소의 품질․신뢰성 관련 책임자 및 실무자
□ 신청접수 및 문의
o 신청 접수 :<사전접수> http://www.vivus.co.kr/seminar/seminar.asp
- 팩 스 : 031-478-3279
- 전자메일 : yechae@vivus.co.kr
o 문의 사항 : 채 영은 과장 (Tel:031-478-5367)
□ 세미나 프로그램
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시 간 |
세부 내용 |
강 사 |
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9:30 ~ 10:00 |
세미나 등록 |
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10:00 ~ 10:15 |
개회식 |
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10:15 ~ 12:15 |
Session 1:
가속수명시험기술 개요
Session 2 :
기존 시험 신뢰성 시험과 HALT 시험 비교 |
John Hanse /
John Sexton
(동시통역) |
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12:15 ~ 13:15 |
점심식사 |
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13:15 ~ 14:45 |
Session 3 :
전자 및 자동차 부품. 소재 등의 HALT
시험 적용 사례 및 방법 |
John Klauke
(동시통역) |
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14:45 ~ 15:00 |
Coffee break |
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15:00 ~ 16:30 |
Session 4 :
HALT 시험 준비 방법(sample, fixture 등)
HALT 시험 결과 분석 방법
HALT 시험 결과를 HASS 시험 적용 방법 |
John Klauke
(동시통역) |
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16:30 ~ 17:00 |
질의 응답 |
(동시통역) |
<세미나 오시는 길 : 연구원 home page 참조>
1) 한국 광기술 연구원 (http://www.kopti.re.kr)
2) (재)구미전자정보기술원 (http://www.geri.re.kr)
3) 주) 케피코 (http://www.kefico.co.kr)
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